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此停产产品的替代产品:

TFUV10
用于测量200纳米至550纳米紫外线LED的总辐射功率的光谱辐射仪
ISD-15-BTS2048-VL
用于LED测试和系统集成的紧凑型积分球光谱辐射仪系统

DCP 方法 LED 測試站

基於光譜輻射計的 DCP-LED 測試站,用於測量 UV LED 的輻射功率

  • IES LM-92 的 DCP 方法以及 CIE TC2-91 正在進行的工作,用於高精度 UV LED 測量。
  • DCP 方法也適用於可見光和紅外線波段。
  • DCP 方法可在應用軟體或 Python 工具(SMU 和光譜輻射計)中實現。
  • VektrexTM SMU 可用於精確設定短脈衝和掃描的電流。
  • 也支援短脈衝、長脈衝和連續工作等其他工作模式。
  • 配備 ODM 塗層的 150 mm 無螢光積分球和低雜訊散光光譜輻射計。
  • 可選校準標準,方便使用者重新校準系統。
DCP 方法 LED 測試站

UV-C LED 测量的特殊性

在设计用于 UV-LED 的积分球光谱辐射计时,必须考虑 LED 的准单色辐射特性。该辐射会引发积分球涂层的荧光,从而导致显著的测量误差。这些误差无法通过常规的校正方法进行补偿。通过使用强紫外线预处理积分球涂层,可以将荧光效应降低到测量检测限以下。

另请参阅我们的技术文章:无荧光 UV-LED 辐射通量测量


DCP 方法:测量要求与解决方案

为了使用 DCP 方法(参见 IES LM-92-22 和 CIE TC2-91)进行精确测量,需满足两个条件:

  • 一台快速的光谱辐射计,积分时间在微秒级,专为 UV 测量优化。
  • 一台快速源测量单元(SMU),能够精确生成微秒级电流脉冲。

若不满足这些要求,测量不确定度将增加,温度效应和抖动会导致显著误差。

VIS 和 IR 波段的标准正在更新,DCP 方法将被纳入其中。

Gigahertz-Optik 与 Vektrex™ 合作开发了符合 DCP 方法的 LED 测试系统。电流可自动调节至设定范围,完整扫描可在几秒至几分钟内完成。系统支持 Python 脚本或 S-BTS2048 图形软件操作。

此外,系统还支持传统测量方法,如短脉冲、长脉冲和连续电流工作模式。


用于辐射通量测量的积分球

光谱辐射计测量总辐射通量的标准输入光学配置是一台直径 150 mm、入口孔径为 50.8 mm 的积分球。其内部 ODM 涂层提供 UV、VIS 和 NIR 范围内理想的反射特性。我们还提供模块化的积分球结构,满足多种应用需求。


高分辨率光谱辐射计

光谱仪在多种苛刻应用中表现出色,从高速 LED 分类到国家计量水平的测量。BTS2048-UV 可直接安装于积分球,无需光纤,测量范围为 250–430 nm,光谱分辨率为 1 nm。内置可远程控制的 ND 滤光轮扩展了动态范围。CCD 像素可同步复位为零,实现脉冲链中单个脉冲的测量。VIS 和 NIR 范围的其他型号也可提供。


杂散光与暗信号

对于使用 CCD 或 CMOS 阵列传感器的 UV 光谱辐射计,杂散光与暗信号对测量结果有重大影响:

  • 杂散光是落在错误像素上的光线,导致非目标波长的错误信号。如果不适当抑制,将无法区分真实光谱与杂散光。BTS2048-UV 通过集成光阱和光学滤光片实现创新的杂散光抑制。
  • 暗信号受设备工作温度和积分时间变化影响。BTS2048-UV 的暗信号快门可测量暗信号,并用于后续测量的修正。

UV-C LED 测量中的注意事项

设计用于 UV-LED 的积分球光谱辐射计时,需特别考虑由准单色辐射引起的涂层荧光效应,会造成不可校正的测量误差。我们的 LED 测试系统基于 的专业技术。

另请参阅我们的技术文章:无荧光 UV-LED 辐射通量测量


工厂校准与 ISO/IEC/EN 17025 测试

Gigahertz-Optik 的测量实验室提供高质量的工厂校准,确保 LED 测试系统的可追溯性。所有校准均在 Gigahertz-Optik 校准实验室 进行,符合 NMI 认证测试的质量管理流程。ISO/IEC/EN 17025 认证测试与证书可选。

DCP测试站完整系统,配备光谱仪和SMU

DCP测试站完整系统,配备光谱仪和SMU

VektrexTMSpike Save 和 BTS2048 的强大组合

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DCP 方法(IES LM-92-22) 紫外线 LED 测量示例

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