X4

X4 光分析仪

双技术传感器光度计

X4 光分析仪以绝对光度测量单位测量光度照度、辐射照度和光谱照度。其双技术传感器技术结合了滤光器探测器和光谱仪，以实现最低的测量不确定性。

宽带探测器

宽带滤波探测器符合 CIE 的明视觉、暗视觉或辐射学 UV-A、可见光和近红外光谱灵敏度。固态光电二极管具有宽动态测量范围和卓越的线性度。

二极管阵列光谱仪

二极管阵列光谱仪提供 315 至 1050 nm 波长范围内的光谱数据。相对光谱数据用于：

• 在线修正宽带探测器的光谱失配不确定性
• 光谱、峰值波长、半带宽、峰值波长强度
• 色温、xy 和 u’v’ 色度值、显色指数

附件组件

X4 的功能可通过选配附件扩展，用于光强/辐射强度、光通量/辐射通量以及光强/辐射强度空间分布测量。

软件

所提供的 S-X4 软件支持对 X4 及任何随系统附带的附件设备进行全面控制。这包括 Gigahertz-Optik 的 LED 和灯具电源 (LPS)、测角仪 (GBD) 和积分球 (IS)。软件提供多种数据采集程序、数值与图形显示以及多种导出选项（ASCII 和 Microsoft Excel）。

电子单元

X4-DE 电子单元包含二极管阵列光谱仪和探测器电子学。X4-DE 设备通过 USB 接口进行远程控制。

双技术传感器设计

二极管阵列光谱仪采用紧凑的 Czerny-Turner 设计，配备 2048 像素 CCD 阵列。SMA 光纤输入带准直、聚焦反射镜和衍射光栅，可实现低光照水平和高分辨率的光测量。1 米长柔性光纤连接光谱仪与 X4-BTS 或 LDM-9812 探测头。四通道宽带探测器电子学包括高灵敏度模拟放大器，增益可切换，测量范围为 0.1pA 至 200μA。

台式或机架安装外壳

X4-DE 提供两个版本。X4-DE-UN 带有独立台式外壳，适用于独立应用。X4-DE-UN-RM 则适用于安装在 19 英寸机架或台式外壳中，可与其他电子设备（如 LED 电源）组合成一个完整的电子单元。

PC 或笔记本操作

操作 X4-DE 并显示结果需要带有 USB 接口的笔记本电脑或 PC。X4-DE 通过 USB 接口供电（5VDC 工作电压）。

S-X4 软件

所提供的软件支持通过 PC 远程控制 X4-DE，包括设置、测量流程、数据展示及文档生成。

可溯源校准

Gigahertz-Optik 的光度计量实验室执行校准和认证，使用可追溯至国家和国际计量实验室的校准标准。

用于绝对测量的宽带探测器与用于光谱测量的二极管阵列

X4-BTS 光传感器包含用于光谱仪光纤的 SMA 光纤连接器和最多四个 X4-ID 型宽带探测器。共享的余弦校正漫射器确保光纤和每个探测器均匀受光。

简易光纤更换

传感器外壳中宽带探测器的安装设计保证了绝对测量不受可更换光纤影响。

二极管阵列光谱仪

X4-BTS 传感器通过 SMA 光纤电缆连接至 X4-DE 光谱仪，以进行光谱辐照度测量。光纤位于余弦漫射器之后。使用手动快门在漫射器与光纤之间实现二极管阵列探测器的偏移补偿。手动 OD2 中性密度滤光片在测量低信号和高信号光源时扩展动态范围。快门和衰减器的位置会反馈到 X4-DE-UN。

可溯源校准

X4-DE 与 X4-BTS 已校准，以测量积分探测器的光度与辐射灵敏度，以及在 315nm 至 1050nm 波长范围内二极管阵列光谱仪的绝对光谱灵敏度。校准由 Gigahertz-Optik 光度计量实验室执行，使用可追溯至国家和国际计量实验室的标准。

可选附件组件

可为 X4-BTS 探测器订购可选组件以扩展测量能力：

• 积分球，用于光通量和辐射功率测量
• 测角台，用于光强空间分布测量
• 前端管配 LED 适配器，用于 CIE 127 平均 LED 光强测量
• 前端镜头适配器，用于亮度和辐射亮度测量

直径 45mm 的传感器头带 V 型槽，可安装在 Gigahertz-Optik 45mm 标准接口附件上。

探测器灵敏度：

X4-ID3 400-800nm 探测器