对LED分选的光谱仪要求/Spectroradiometer Requirements for LED Binning

尽管半导体行业采用了最先进的制造技术，但LED的光输出和色温却因芯片不同而不同。因此，为了最大限度地提高产量和对产品进行分类，采用了分档。ANSI C78.377-2017[1]等标准定义了与色度边界有关的公差带或 "分档"。因此，无一例外，LED分档需要测量设备的绝对光谱功率分布，以精确确定每个独立LED的光输出和相关色温（CCT）。光输出最常见的是以光通量（lm）来衡量，尽管有时也会指定平均LED强度[2]。

LED是大规模生产的，因此需要尽可能短的测量时间以达到分档的目的。

制造商使用一个典型的持续时间约为20毫秒或更短的单脉冲来测试他们的设备。这种高速测试对光谱辐射仪提出了很高的要求，要求输入光学器件的高光通量、高灵敏度和尽可能小的暗信号以及快速数据处理和数据传输。此外，软件必须为测量设备与完整的自动化系统的集成提供方便。通过BTS2048-VL光谱辐射仪及其测量附件，Gigahertz-Optik GmbH为LED分选提供了高性能的测量设备。

References

[1] Specifications for the Chromaticity of Solid State Lighting Products, ANSI C78.377-2017

[2] CIE 127:2007 Measurement of LEDs