BTS2048-VL-TEC

BTS2048-VL-TEC，带有热电冷却 CCD 探测器的 CCD 光谱辐射计

BTS2048-VL 的 BTS2048-VL-TEC 变体在其 CCD 探测器上集成了热电冷却。该设备符合高端二极管阵列光谱辐射计的所有要求，尽管采用了最先进的设计，但仍保持合理的价格。

CCD 探测器的热电冷却可最大限度地减少暗噪声信号，并实现从 2 µs 到 60 s 的积分时间，而 BTS2048-VL 的积分时间范围为 2 µs 至 4 s。因此，BTS2048-VL-TEC 特别适用于光强度极低或由于高稳定性而无法频繁测量暗信号的应用。同样，它非常适合用于高功率灯导致积分球升温的光通量测量。另请参阅我们关于 SSL/LED 测试 的技术文章。BTS2048-VL-TEC 可轻松安装在积分球上。Gigahertz-Optik 提供多种标准积分球，例如非常适合 LED 分级 的 ISD-15-BTS2048-VL。我们还提供定制化解决方案以满足您的需求，请参阅我们的 集成球体建造套件 或其他示例 整合基于球体的光谱仪系统。

*其独特功能之一是由 Gigahertz-Optik 开发的创新型 BiTec 传感器，该传感器由一个带有 V(lambda) 滤波的 Si 光电二极管和一个光谱辐射计单元组成。这使其具有极高的线性度、稳定性和速度，从而保证更高的测量精度而无任何缺点。两个传感器可独立使用，相互校正可提高精度、速度和灵活性（参见关于 BTS 技术 的文章）。

从形式上看，根据 CIE 231:2019 和 DIN 5032-7:2024 标准，具有通过光谱测量实现光谱不匹配校正的光度计与经典光度计的处理方式相同。结果参数如 f₁' 可按照 DIN EN 13032-1 确定，只要光谱和积分测量使用相同的输入光学系统，而这在我们的 BTS 设备中始终成立。BTS 设备早已领先于时代，而现在标准化进程已经追赶上来了。

优化的杂散光性能，尤其在紫外范围

在紫外波段进行精确测量需要将光谱杂散光的影响降至最低。BTS2048 系列通过优化光路设计实现了这一目标。此外，还可以表征光谱辐射计的杂散光矩阵，从而进一步降低残余杂散光信号。（详情请参见 分光辐射仪中的杂散光抑制/校正）。

特别是在 350 nm 至 1050 nm 的宽光谱范围内，BTS2048-VL-2-TEC 变体不仅提供杂散光矩阵校正，还可额外使用带外 (OoR) 滤光片以减少杂散光。该测量方法也可在无杂散光矩阵的情况下使用，并能显著改善紫外范围内的测量性能。根据需要，可将测量范围扩展至 280 nm 至 1050 nm。

用户软件与开发者软件

标准的 S-BTS2048 用户软件具有可自定义的用户界面，以及大量可在配置 BTS2048-VL-TEC 时启用的显示和功能模块。S-SDK-BTS2048 开发者软件用于将 BTS2048-VL-TEC 集成到客户自有软件中。

BTS2048-VL-TEC 的校准

BTS2048-VL-TEC 设备的一个重要质量特征是其精确且可追溯的校准。BTS2048-VL-TEC 由 Gigahertz-Optik 的 ISO/IEC 17025 校准实验室 进行校准，该实验室已通过 DAkkS (D-K-15047-01-00) 认证，涵盖 光谱响应度 和 光谱辐照度 的校准，符合 ISO/IEC 17025 标准。校准还包括相应的附件组件。每台 BTS2048-VL-TEC 设备均附带其相应的校准证书。