Silux-37xx Serie

Motivation für Silux

Es bestand ein Bedarf an einer radiometrischen Maßeinheit, die besser mit der Wertung von monochromen Silizium-Bildsensoren korreliert als die Lux-Einheit, insbesondere wenn man an Nachtsichtkameras usw. denkt. Wissenschaftlich gesehen gab es einen Vorschlag für eine neue Referenzeinheit für solche Systeme mit der Bezeichnung Silux (Akronym aus Silizium und Lux). Die jüngste Methodik sich auf die spektralen Empfindlichkeitskurven verschiedener kommerzieller CMOS-Bildsensoren für Schwachlicht zu beziehen, insbesondere im NIR-Band, motivierte die Silux-Einheit der spektral gewichteten Bestrahlungsstärke. Diese baisert auf einer spektralen Wirkungsfunktion silux(λ), die ein gewichteter Durchschnitt der spektralen Empfindlichkeitskurven kürzlich kommerzialisierter NIR-verstärkter CMOS-Bildsensoren ist, und ein Gegenstück zu V(λ) für die Lux-Einheit [1].

Anwendung von Silux

Die Hauptanwendung für ein Silux-Optometer ist die Charakterisierung, wie gut eine bestimmte Schwachlicht-Bestrahlungsbedingung im Freien ein Signal in einem CIS-basierten Bildgebungssystem erzeugt.

Was ist 1 Silux?

Die Silux-Einheit der spektral gewichteten Bestrahlungsstärke, die auf einer spektralen Wirkungsfunktion silux(λ) basiert, die ein gewichteter Durchschnitt der spektralen Empfindlichkeitskurven von kürzlich auf den Markt gebrachten NIR-verstärkten CMOS-Bildsensoren ist, und ein Gegenstück zu V(λ) für die Lux-Einheit. In [1] wird die Einheit so skaliert, dass 1 silux/sr als die In-Band-Strahldichte eines Schwarzen Körpers von 2856 K bei einer Leuchtdichte von 1E-04fL definiert ist.

[1] Richards, Hübner, Silux: A Unit of Silicon Detector-Weighted Irradiance, Proc. SPIE 12533, Infrared Imaging Systems: Design, Analysis, Modeling, and Testing XXXIV, 125330J (14 June 2023); doi: 10.1117/12.2663668, 2023